1、介紹：

串聯(lián)諧振裝置廣泛應(yīng)用于變壓器、電容器等大容量試驗(yàn)對象的現(xiàn)場交流耐壓試驗(yàn)。針對實(shí)際應(yīng)用中常見的問題，分析了串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)中影響因數(shù)質(zhì)量q的幾個因素。

2、測試對象的容量：

q值是評價(jià)串聯(lián)諧振電路最重要的參數(shù)。它與高壓電容的工頻f和電感L成正比，與阻抗R成反比，R表示整個電路的有功損耗。在實(shí)際的工頻串聯(lián)諧振測試電路中，根據(jù)公式wl=l/wc可以得出電容電抗決定電感電抗的結(jié)論。

然而,Q = wL / R。如果測試對象是GIS或由獨(dú)立元件組成的設(shè)備，則可以分段進(jìn)行耐壓測試，提高容抗，獲得更高的q值。采用變頻諧振裝置，試驗(yàn)對象的容量較大，諧振頻率較低。在大多數(shù)情況下，這對測試對象是有幫助的。

3、電路損耗的等效電阻：

無論何種工頻或變頻諧振裝置，若測試對象容量固定或高壓電抗器電感固定，當(dāng)電路達(dá)到串聯(lián)諧振時，wl=l/wc，則有:式中:Uout為輸出電壓;Uexc是根據(jù)上述公式輸入的勵磁電壓，提高q值的方法是降低電路損耗電阻R。實(shí)際測試電路由串聯(lián)測試裝置、高壓引線和測試對象三部分組成。該電路主要由高壓電抗器和串聯(lián)裝置中的測試對象構(gòu)成。

3.1、串聯(lián)諧振裝置損耗

高壓電抗器主要決定串聯(lián)諧振器件的有源損耗。高壓電抗器電感大，電流小。因此，線圈的直流電阻可以達(dá)到ka。它與電抗器的鐵損耗構(gòu)成了電路損耗電阻r的重要組成部分。為了便于進(jìn)一步分析，我們引入了這一觀點(diǎn)——將整個電路的q值分解為電路的各個部分。設(shè)電路q值為Qs，串聯(lián)諧振器q值為QR，測試對象q值為Qi。

4、結(jié)論：

(1)串聯(lián)諧振試驗(yàn)中，影響q值的因素很多，包括被測對象的容量、電路損耗電阻、天氣等；

(2) Qs是一個復(fù)雜的參數(shù)，一般由QL和QR決定，然而，在現(xiàn)場試驗(yàn)中，其他因素也會影響Qs，包括高壓電極和高壓引線。特別是高壓引線的電暈損耗控制比較困難。隨著電壓的升高，高壓部分電暈損耗逐漸增大，導(dǎo)致Qs值明顯降低。最后，輸出電壓不能飽和，不再增加；

(3)降低高壓部分電暈損失的有效方法是在高壓電極上增加電暈環(huán)，提高高壓引線的初始電暈場強(qiáng)。實(shí)驗(yàn)室可采用長徑精加工鋁管，現(xiàn)場試驗(yàn)高壓引線應(yīng)采用長徑彈性引線。不建議使用裸銅線；

(4)當(dāng)輸出電壓接近標(biāo)稱值時，應(yīng)注意電抗器的電壓分布。